日立金屬專利(日立金屬專利有效期)

博主:adminadmin 2023-07-07 19:30:07 條評論
摘要:本篇文章給大家談?wù)勅樟⒔饘賹@?,以及日立金屬專利有效期對?yīng)的知識點,希望對各位有所幫助。做磁鐵有專利的廠家有哪些?日立金屬在磁鐵行業(yè)擁有600多項專利...
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本篇文章給大家談?wù)勅樟⒔饘賹@?,以及日立金屬專利有效期對?yīng)的知識點,希望對各位有所幫助。

做磁鐵有專利的廠家有哪些?

日立金屬在磁鐵行業(yè)擁有600多項專利,雖然有些專利已經(jīng)過期,但還是很難避開他的專利。

日立金屬專利(日立金屬專利有效期)

最近因為這個問題跟供應(yīng)商溝通很多,據(jù)供應(yīng)商說所有帶H的型號都避不開專利問題,必須交專利費(fèi)。如果在國內(nèi)做,沒人管。如果賣國外,那就要小心了,外國公司特別在意專利問題。

到底是不是只有帶H的型號有專利問題,不帶H的就沒有,這個我還是不太確定,國內(nèi)這些山寨廠商,有些時候會亂說。

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超微晶合金高頻磁特性檢測中的波形調(diào)理

超微晶合金高頻磁特性檢測中的波形調(diào)理

方案,在此基礎(chǔ)上完成了高頻下超微晶合金磁滯回線的動態(tài)測量并對其損耗特性進(jìn)行了分析。

1 超微晶高頻磁特性測量過程中非對稱波形畸變的產(chǎn)生原因

根據(jù)IEC-60404-10的建議,本文采用環(huán)形樣件搭建了超微晶高頻磁特性實驗系統(tǒng)。最初的實驗原理圖如圖1所示。功放的信號源由NI公司的多功能數(shù)據(jù)采集卡提供。初級電流與次級感應(yīng)電壓分別由示波器電流探頭與電壓探頭獲得。由于當(dāng)磁場較小時,兩個信號都非常弱,信號先由前置電壓放大器SR560進(jìn)行放大,然后由示波器進(jìn)行采集。示波器采樣率高達(dá)1 GHz,保證了高頻情況下也能得到

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足夠多的采樣點。樣件中的磁通密度B與磁場強(qiáng)度H可以由下式獲得:

B=-■■u2dt(1)

H=■(2)

式中:N1、N2——初級與次級繞組的匝數(shù);

S、lm——磁芯的截面積與磁路有效長度;

I1——勵磁電流;

u2——次級感應(yīng)電壓。

如圖2所示,在測試的過程中,在激磁電壓保證正弦的條件下,超微晶合金的勵磁電流出現(xiàn)了非對稱分量,并且隨著電壓升高,次級電壓波形也出現(xiàn)了不同程度的畸變。這一非對稱分量反映到磁場量上就會形成一個非對

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稱的磁滯回線,從而對損耗的計算產(chǎn)生一定的誤差。

然而,這一非對稱的磁場分量并不是一成不變的,它隨著磁通密度的大小而改變。在勵磁電壓保證正弦對稱的條件下仍出現(xiàn)一個很小的直流磁場偏置。產(chǎn)生這種現(xiàn)象的原因十分復(fù)雜,歸納起來主要有3點:1)超微晶合金具有超高的磁導(dǎo)率,任何空間中微弱的偏置磁場都會對實驗產(chǎn)生影響。2)雖然電壓對稱,但是超微晶磁化在測試過程中初級繞組浮地,信號源的地與超微晶測試系統(tǒng)的地有電壓差,從而產(chǎn)生非對稱電流,最終引起直流偏磁。3)超微晶合金本身對退火十分敏感,不同的退火條件對材料磁性能影響很大。在退火過程中,材料可能存在非對稱的應(yīng)力,從而導(dǎo)致正向磁化與負(fù)向磁化的磁導(dǎo)

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率不同,最終反映在激磁電感的非對稱性上。

由于這種波形的非對稱畸變影響因素較多,即使在實驗電路中添加隔離變壓器,也不能很好地濾除直流磁場的影響。

2 對超微晶合金高頻實驗系統(tǒng)的改進(jìn)

2.1 硬件測試系統(tǒng)的改進(jìn)

考慮到波形的非對稱畸變實際上是一個直流偏磁,要消除這一現(xiàn)象需人為產(chǎn)生一個直流磁場來補(bǔ)償?shù)舨牧媳旧聿粚ΨQ而產(chǎn)生的直流偏置。改進(jìn)后的實驗系統(tǒng)如圖3所示。

為了更好地實現(xiàn)波形的控制,NI PXI控制器被應(yīng)用到測控系統(tǒng)中,通過對采集來的信號在LabVIEW中進(jìn)行處理,實現(xiàn)了全自動的測

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量。在整個系統(tǒng)中,額外添加了一套直流繞組,通過觀察實際測試過程中波形的偏移量,調(diào)節(jié)直流電流的輸出,產(chǎn)生一個相反的磁場,從而達(dá)到直流偏磁補(bǔ)償?shù)哪康?。圖中L為阻尼電抗,對直流側(cè)的電流分量起到抑制作用。在測試過程中,電流探頭與電壓探頭需要加裝前置放大以滿足采集系統(tǒng)的輸入范圍。為了保證磁通密度B一直為正弦變化,基于時域的波形迭代算法被應(yīng)用在整個測控系統(tǒng)中。

3 結(jié)束語

本文對超微晶高頻磁特性測量過程中所產(chǎn)生的一些實驗問題作了一些探討。首先,分析了在

測試過程中產(chǎn)生波形非對稱畸變的原因;其

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次,在此基礎(chǔ)上對整體實驗系統(tǒng)的軟硬件進(jìn)行了重新設(shè)計,提出了第3繞組補(bǔ)償以及一種基于時域反饋迭代算法,很好的補(bǔ)償了波形;最后,測量了日立金屬所提供的FT-3M磁芯的磁滯回線與損耗曲線,驗證了方法的可行性。參考文獻(xiàn)

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(編輯:劉楊)

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超微晶磁環(huán)降低紋波的原因

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