本篇文章給大家談?wù)勅樟⒔饘賹＠?，以及日立金屬專利有效期對?yīng)的知識點，希望對各位有所幫助。

做磁鐵有專利的廠家有哪些?

日立金屬在磁鐵行業(yè)擁有600多項專利，雖然有些專利已經(jīng)過期，但還是很難避開他的專利。

最近因為這個問題跟供應(yīng)商溝通很多，據(jù)供應(yīng)商說所有帶H的型號都避不開專利問題，必須交專利費(fèi)。如果在國內(nèi)做，沒人管。如果賣國外，那就要小心了，外國公司特別在意專利問題。

到底是不是只有帶H的型號有專利問題，不帶H的就沒有，這個我還是不太確定，國內(nèi)這些山寨廠商，有些時候會亂說。

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超微晶合金高頻磁特性檢測中的波形調(diào)理

超微晶合金高頻磁特性檢測中的波形調(diào)理

方案，在此基礎(chǔ)上完成了高頻下超微晶合金磁滯回線的動態(tài)測量并對其損耗特性進(jìn)行了分析。

1 超微晶高頻磁特性測量過程中非對稱波形畸變的產(chǎn)生原因

根據(jù)IEC-60404-10的建議，本文采用環(huán)形樣件搭建了超微晶高頻磁特性實驗系統(tǒng)。最初的實驗原理圖如圖1所示。功放的信號源由NI公司的多功能數(shù)據(jù)采集卡提供。初級電流與次級感應(yīng)電壓分別由示波器電流探頭與電壓探頭獲得。由于當(dāng)磁場較小時，兩個信號都非常弱，信號先由前置電壓放大器SR560進(jìn)行放大，然后由示波器進(jìn)行采集。示波器采樣率高達(dá)1 GHz，保證了高頻情況下也能得到

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足夠多的采樣點。樣件中的磁通密度B與磁場強(qiáng)度H可以由下式獲得：

B=-■■u2dt（1）

H=■（2）

式中：N1、N2——初級與次級繞組的匝數(shù)；

S、lm——磁芯的截面積與磁路有效長度；

I1——勵磁電流；

u2——次級感應(yīng)電壓。

如圖2所示，在測試的過程中，在激磁電壓保證正弦的條件下，超微晶合金的勵磁電流出現(xiàn)了非對稱分量，并且隨著電壓升高，次級電壓波形也出現(xiàn)了不同程度的畸變。這一非對稱分量反映到磁場量上就會形成一個非對

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稱的磁滯回線，從而對損耗的計算產(chǎn)生一定的誤差。

然而，這一非對稱的磁場分量并不是一成不變的，它隨著磁通密度的大小而改變。在勵磁電壓保證正弦對稱的條件下仍出現(xiàn)一個很小的直流磁場偏置。產(chǎn)生這種現(xiàn)象的原因十分復(fù)雜，歸納起來主要有3點：1）超微晶合金具有超高的磁導(dǎo)率，任何空間中微弱的偏置磁場都會對實驗產(chǎn)生影響。2）雖然電壓對稱，但是超微晶磁化在測試過程中初級繞組浮地，信號源的地與超微晶測試系統(tǒng)的地有電壓差，從而產(chǎn)生非對稱電流，最終引起直流偏磁。3）超微晶合金本身對退火十分敏感，不同的退火條件對材料磁性能影響很大。在退火過程中，材料可能存在非對稱的應(yīng)力，從而導(dǎo)致正向磁化與負(fù)向磁化的磁導(dǎo)

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率不同，最終反映在激磁電感的非對稱性上。

由于這種波形的非對稱畸變影響因素較多，即使在實驗電路中添加隔離變壓器，也不能很好地濾除直流磁場的影響。

2 對超微晶合金高頻實驗系統(tǒng)的改進(jìn)

2.1 硬件測試系統(tǒng)的改進(jìn)

考慮到波形的非對稱畸變實際上是一個直流偏磁，要消除這一現(xiàn)象需人為產(chǎn)生一個直流磁場來補(bǔ)償?shù)舨牧媳旧聿粚ΨQ而產(chǎn)生的直流偏置。改進(jìn)后的實驗系統(tǒng)如圖3所示。

為了更好地實現(xiàn)波形的控制，NI PXI控制器被應(yīng)用到測控系統(tǒng)中，通過對采集來的信號在LabVIEW中進(jìn)行處理，實現(xiàn)了全自動的測

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量。在整個系統(tǒng)中，額外添加了一套直流繞組，通過觀察實際測試過程中波形的偏移量，調(diào)節(jié)直流電流的輸出，產(chǎn)生一個相反的磁場，從而達(dá)到直流偏磁補(bǔ)償?shù)哪康?。圖中L為阻尼電抗，對直流側(cè)的電流分量起到抑制作用。在測試過程中，電流探頭與電壓探頭需要加裝前置放大以滿足采集系統(tǒng)的輸入范圍。為了保證磁通密度B一直為正弦變化，基于時域的波形迭代算法被應(yīng)用在整個測控系統(tǒng)中。

3 結(jié)束語

本文對超微晶高頻磁特性測量過程中所產(chǎn)生的一些實驗問題作了一些探討。首先，分析了在

測試過程中產(chǎn)生波形非對稱畸變的原因；其

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次，在此基礎(chǔ)上對整體實驗系統(tǒng)的軟硬件進(jìn)行了重新設(shè)計，提出了第3繞組補(bǔ)償以及一種基于時域反饋迭代算法，很好的補(bǔ)償了波形；最后，測量了日立金屬所提供的FT-3M磁芯的磁滯回線與損耗曲線，驗證了方法的可行性。參考文獻(xiàn)

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（編輯：劉楊）

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超微晶磁環(huán)降低紋波的原因

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